採用Vortex高解析度之矽半導體多陰極檢測器,為一般SEM/EDX專用之高階檢測器,不需要使用液態氮冷卻。
■ 產品特色
1.採用Vortex高解析度之矽半導體多陰極檢測器,為一般SEM/EDX專用之高階檢測器,不需要使用液態氮冷卻。
2.高計數率設計的Vortex檢測器,計數率可達150,000 cps,是一般檢測器的15~20倍,能接受更多的X螢光訊號,針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用極佳。
■ 基本規格
測定元素
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原子編號 11 (Na) ~ 83 (U)
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樣品形態
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固體,粉末,液體
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X光管
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小型空冷式X射線管球(Rh靶)
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管電壓: 15kV, 30kV, 40kV, 50kV 管電流:1mA
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檢測器
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Si 半導體檢測器 (無需液態氮)
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準直器
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1mm, 5mm自動切換
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樣品觀察
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彩色CCD攝像頭
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濾波器
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5種模式自動切換
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樣品室
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430(W)*320(D)*209(H)mm
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X-ray Station
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筆記型電腦或桌上型電腦
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(OS MS-windows XP)
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印表機(選購)
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噴墨印表機
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定性分析功能
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能譜測定,自動辨別,圖譜比對
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定量分析功能
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KLM 標示表示,,差異表示,塊體FP法,標準曲線法
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統計處理功能
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MS-EXCEL
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報告製作
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MS-WORD
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設置尺寸
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1080(W)*750(D)*810(H)mm(不含印表機)
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重量
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90kg
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使用電源
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AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10, 10A
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選購
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有害物質判定軟體
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能譜匹配軟體(材料判定)
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薄膜標準曲線軟體
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樣品進樣器
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準直器: 3mm&Phi
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真空泵(輕元素分析用)
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標準品 (金屬電鍍薄膜厚度標樣, RoHS標樣)
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