可應用於印刷電路板、太陽能電池之快速掃瞄成份分析、異物方析、膜厚測定。也可應用於RoHS有害元素篩選、無鹵規範、歐盟REACH法令有害物質、歐洲玩具標準EN71-3、加州Prop.65法令、美國CPS
可應用於印刷電路板、太陽能電池之快速掃瞄成份分析、異物方析、膜厚測定。也可應用於RoHS有害元素篩選、無鹵規範、歐盟REACH法令有害物質、歐洲玩具標準EN71-3、加州Prop. 65法令、美國CPSIA鉛含量限制、合金型號辨識、金屬元素成分分析、貴金屬分析、分析土壤/環境重金屬分析、油品分析、……等各種元素分析品!日本精工Seiko針對大範圍的測試物件,特別所設計了全新高階機型—SEA6000VX,日本精工奈米科技研發,採用最新穎、最高階Vortex檢測器,是目前市面上功能最強速度最快的掃描分析電子式冷卻XRF,高計數率設計的Vortex檢測器,檢測速度是一般檢測器的15~20倍,針對微量元素及輕元素分析的應用極佳,為用於非破壞掃描檢測的最高階儀器。
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透視掃描