Thin Film Metrology 膜厚量測系統
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代理德國NXT GmbH 高精度光學膜層量測儀; NXT GmbH 主要開發和製造光譜
測量儀器, 應用於工業和實驗室相關光學膜層分析的程序。
為平板顯示器. 精密玻璃和半導體的生產至消費產品的包裝和塗層等行業提供全面
經濟高效的質量保證解決方案.
(光學薄膜.膜層量測.NXT.光譜.光學膜層.多層膜量測.在線.離線.thin film.multi layers.optical.thickness.layers.inline.offline.宏力.HTI.透明薄膜.光阻.穿透.白光.白光干涉)