LCD Cell Gap 檢測儀
日本製液晶面板製程空盒白色干涉檢測儀適用
於注入液晶前之測量間隙,可以設置在生產線
或實驗室使用,操作最簡單方便,測量最快速
穩定。
基本規格
測量方式:白色干涉方式
測量點範圍
日本製液晶面板製程空盒白色干涉檢測儀適用
於注入液晶前之測量間隙,可以設置在生產線
或實驗室使用,操作最簡單方便,測量最快速
穩定。
基本規格
測量方式:白色干涉方式
測量點範圍:對物鏡頭 3倍 / 直徑4mm
測量時間: 0.7秒 / 點
測量範圍: 1.2 ~ 18μm
測量再現性:0.01μm(2σ)
測量平台: 500 x 400mm
測量軟體: Windows
電源 : AC100V 50/60Hz 300VA
重量 : 約 90kg
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